德國(guó)EPK MiniTest 720涂層測(cè)厚儀
MiniTest 720/730/740涂層測(cè)厚儀
-創(chuàng)新的SIDSP（探頭內(nèi)部數(shù)字信號(hào)處理）技術(shù)提升了測(cè)量的性
-測(cè)量范圍達(dá)15mm，可更換F、N或FN探頭，供內(nèi)置或外接探頭使用
-FN探頭自動(dòng)識(shí)別F（鐵磁性）或N（非磁性）基體，操作方便不易出錯(cuò)
SIDSP技術(shù)-全球*技術(shù)，智能數(shù)字化的涂層測(cè)厚探頭
模擬信號(hào)處理時(shí)代已成過(guò)去，數(shù)字信號(hào)處理將成為未來(lái)的趨勢(shì)
MiniTest 720/730/740涂層測(cè)厚儀采用的SIDSP是什么？
SIDSP是由ElektrPhysik（簡(jiǎn)稱EPK）研發(fā)的，*的涂層測(cè)厚探頭技術(shù)。EPK此項(xiàng)技術(shù)為涂層測(cè)厚領(lǐng)域的創(chuàng)新奠定了新標(biāo)準(zhǔn)。
SIDSP即探頭內(nèi)部數(shù)字信號(hào)處理，這項(xiàng)技術(shù)使探頭在測(cè)量時(shí)，同時(shí)在探頭內(nèi)部將信號(hào)完全處理為數(shù)字形式。SIDSP探頭完全依據(jù)世界*技術(shù)生產(chǎn)。
MiniTest 720/730/740涂層測(cè)厚儀的SIDSP工作原理？
跟傳統(tǒng)技術(shù)不同，SIDSP在探頭頂部產(chǎn)生和控制激發(fā)信號(hào)，回傳的信號(hào)經(jīng)過(guò)32位數(shù)字轉(zhuǎn)換和處理，帶給您的涂層厚度值。此項(xiàng)*的數(shù)字處理技術(shù)，同時(shí)應(yīng)用在現(xiàn)代通訊技術(shù)（手機(jī)網(wǎng)絡(luò)）方面，如數(shù)字濾波器，基帶轉(zhuǎn)換，平均值，隨機(jī)分析，等等。此項(xiàng)技術(shù)能獲得與模擬信號(hào)處理無(wú)可比擬的信號(hào)質(zhì)量和度。厚度值通過(guò)探頭電纜數(shù)字化傳輸?shù)斤@示裝置。
SIDSP探頭與普通模擬探頭相比，具有決定性的優(yōu)勢(shì)，為涂層測(cè)厚設(shè)定了一個(gè)新的標(biāo)準(zhǔn)。
MiniTest 720/730/740涂層測(cè)厚儀主機(jī)
型號(hào)
特性
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MiniTest 720
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MiniTest 730
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MiniTest 740
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探頭類型
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內(nèi)置
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外置
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內(nèi)置外置可換
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數(shù)據(jù)記憶組數(shù)
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10
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10
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100
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存儲(chǔ)數(shù)據(jù)量
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*多10,000個(gè)
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*多10,000個(gè)
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*多100,000個(gè)
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統(tǒng)計(jì)值
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讀值個(gè)數(shù)，*小值，*值，平均值，標(biāo)準(zhǔn)方差，變異系數(shù)，組統(tǒng)計(jì)值（標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置/自由配置）
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校準(zhǔn)程序符合國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范
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ISO，SSPC，瑞典標(biāo)準(zhǔn)，澳大利亞標(biāo)準(zhǔn)
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校準(zhǔn)模式
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出廠設(shè)置校準(zhǔn)，零點(diǎn)校準(zhǔn)，2點(diǎn)校準(zhǔn)，3點(diǎn)校準(zhǔn)，使用者可調(diào)節(jié)補(bǔ)償值
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極限值監(jiān)控
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聲、光報(bào)警提示過(guò)極限
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測(cè)量單位
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um，mm，cm；mils，inch，thou
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操作溫度
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-10℃-60℃
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存放溫度
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-20℃-70℃
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數(shù)據(jù)接口
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IrDA 1.0（紅外接口）
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電源
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2節(jié)AA電池
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標(biāo)準(zhǔn)
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DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840
ASTM B244，B499，D7091，E376
AS 3894.3，SS 1841 60，SSPC-PA 2
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體積
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157mm x 75.5mm x 49mm
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重量
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約175g
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約210g
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約175g（內(nèi)置）/230g（外置）
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